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ナノインプリントリソグラフィ(NIL)は、ナノメートルスケールの微細パターンをレジストに直接押し込むことで形成する次世代リソグラフィ技術です。
光の回折限界に縛られないため、10nm以下の高解像度を実現できます。
半導体量産ラインで主流のフォトリソグラフィと比べて装置構成がシンプルで、低コストかつ高速スループットが期待できる点が大きな魅力です。
あらかじめナノパターンを形成した硬質モールドをレジスト表面に押し当て、圧力と熱もしくはUV光によってレジストを変形・硬化させます。
モールドを剥離すると、レリーフ状の微細構造がレジスト膜上に転写されます。
フォトリソグラフィでは光の波長が解像度を規定しますが、NILは機械的変形による転写のため波長依存性がありません。
その結果、露光系の高価なArF、EUV光学ユニットが不要となり、TCO削減が図れます。
また多光重ね合わせによる光学近接効果補正(OPC)が不要で、設計から製造までのリードタイム短縮にも寄与します。
シリコンや石英基板に電子線描画、レーザー描画、さらにはフォトニック結晶加工などを活用してマスターモールドを形成します。
その後、Ni電鋳やUVレプリカで複製モールドを量産し、コスト低減を図ります。
スピンコートやブレードコートでUV硬化型あるいは熱可塑性樹脂レジストを塗布します。
表面平滑性と膜厚均一性は転写精度に直結するため、装置内の温湿度管理が不可欠です。
モールドを基板に対して数十バー程度の圧力で押し付けます。
熱型では120〜180℃でレジストを軟化させ圧力保持後に冷却します。
UV型では室温で真空密着させ、背面から365nm帯域のUV光を照射し瞬時に硬化させます。
モールド離型時の応力集中を抑えるため、フッ素系離型剤やアルキルシランでモールド表面を処理します。
剥離後のレジストパターンは、そのまま機能構造として利用するか、ドライエッチングによりシリコンやIII-V族材料へ転写されます。
ポリメチルメタクリレート(PMMA)やポリスチレンなど熱可塑性樹脂を加熱・加圧し、冷却固化後にパターンを得ます。
高アスペクト比を実現しやすいものの、サイクルタイムがUV型より長くなる傾向があります。
アクリレート系の光硬化レジストを用い、低圧かつ低温で転写できるため基板熱膨張の影響が小さいです。
ディスプレイ用大型ガラスなど熱に弱い基材にも適用できます。
円筒モールドを回転させながら連続転写する方式で、フィルム基材上に長尺のナノパターンを高速形成できます。
光学フィルムやバイオチップ量産に最適です。
ナノスケールのパターンは表面プラズモン共鳴やフォトニックバンドギャップを制御できるため、光学デバイスの性能向上に直結します。
またウェハ上で高密度トランジスタやメタサーフェスを一括成形できるため、集積度向上とチップサイズ縮小が可能です。
コーティングやエッチング工程数を削減でき、環境負荷低減にも貢献します。
3D NANDフラッシュやCMOSイメージセンサの微細加工に採用が進み、EUV露光の補完技術として期待されています。
特にCUT mask工程でのコスト圧縮やダミーパターン形成に有効です。
反射防止構造(モスアイ)、導光板、VR/AR用回折光学素子(DOE)などで量産実績があります。
マイクロレンズアレイを高精度に一括転写できるため、スマートフォンカメラの開口率改善にも寄与します。
ナノピラーやナノポアを利用したDNAシーケンスチップ、タンパク質検出用SPRセンサで高感度化を実現します。
樹脂基板で低コスト量産できるため、POCT(Point of Care Testing)の普及を後押しします。
最も大きな課題は、粒子付着による欠陥とモールド寿命です。
クリーンルームクラス10以下の環境整備に加え、プラズマクリーニングと超音波洗浄を組み合わせてモールド表面を保護します。
また、高硬度DLCコーティングや石英モールドの採用で数千サイクルの耐久性を実証しています。
レジストの残膜厚(Residual Layer Thickness)ばらつきはエッチング選択比バランスで解消し、真空印圧制御で均一化を図ります。
EUV代替として注目されるハイブリッド露光では、粗パターンを193nm浸漬露光で定義し、NILでファインチューニングを行います。
ASML、Canon、Ultratechなど大手装置メーカーが10万WPHクラスの量産機を発表し、半導体ファウンドリでの評価が進行中です。
さらに、AIによる欠陥検査とフィードバック制御を組み込んだスマートファブ化が加速しています。
1. 装置選定ではモールドサイズ、圧力均一性、ステージアライメント精度を確認します。
2. プロセス開発時に、レジスト粘度・硬化条件・離型処理の最適化を行うことで欠陥密度を低減できます。
3. マスターモールドはデジタルマスターとし、設計データをクラウド管理すれば迅速なリビジョンが可能です。
4. 歩留まり向上にはインライン検査(AFM、SEM、光散乱法)を導入し、統計的プロセス制御で継続的改善を行います。
ナノインプリントリソグラフィ技術は、光学的限界を超えた微細パターン形成を低コストで実現し、半導体からバイオまで幅広い産業のキー技術となりつつあります。
プロセス方式やレジスト材料の進化により量産適用可能性が高まっており、今後EUV露光のギャップを埋める現実解として導入が加速するでしょう。
モールド管理、欠陥制御、プロセス統合を戦略的に進めることで、競争優位な製品開発と生産性向上が期待できます。

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