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エッチング技術は、半導体製造プロセスの中核を担う微細加工手法です。
回路パターンをシリコンウエハーに転写するフォトリソグラフィ工程後、不要部分を選択的に除去する役割を果たします。
線幅の微細化が進むほど精密なエッチング制御が求められ、製品歩留まりと性能に直結します。
ウェットエッチングは液体薬液を用いて材料を溶解除去する方法です。
濃厚HFなどフッ酸系溶液が代表例で、シリコン酸化膜除去に利用されます。
液体は高いスループットと均一性を提供しますが、等方性エッチングとなりやすく、アンダーカットが課題です。
また薬液管理や排水処理が必要で、環境面の負担も大きいです。
ドライエッチングはプラズマや反応性ガスを利用する乾式手法です。
異方性に優れ、垂直なサイドウォールを形成できるため、微細パターン加工に不可欠です。
代表的な装置はRIE(Reactive Ion Etching)とICP(Inductively Coupled Plasma)で、ガス組成やRFパワーを調整しナノレベルの加工を実現します。
反応チャンバーはプラズマ生成とガス反応が行われる心臓部です。
温度制御ステージによりウエハー温度を精密調整し、加工形状を安定化します。
ガス供給システムは質量流量制御(MFC)でガス比率を正確に制御し、化学反応を最適化します。
真空排気系はターボ分子ポンプやクライオポンプを備え、低圧環境を維持します。
エンドポイント検出にはOES(Optical Emission Spectroscopy)が使用され、発光スペクトルの変化で加工終了を検知します。
リアルタイムプラズマ診断により過剰エッチングを防止し歩留まりを向上させます。
シリコンエッチングではCl₂やHBrを用い、フッ素系ガスと併用して高選択比を実現します。
SiO₂エッチングはSF₆やC₄F₈などフッ素系ガスで行い、ポリマー付着を利用して側壁保護層を形成します。
金属配線用のCuエッチングは化学量論が難しく、ドライよりウェットが一般的ですが、バリア膜向けにドライ手法も研究されています。
7nm以降のロジックデバイスでは高アスペクト比トレンチやFin構造が顕在化し、原子層エッチング(ALE)が注目されています。
ALEは吸着反応とリムーブ反応を交互に行い、1サイクルで原子層単位の除去量を制御します。
高い面内均一性とダメージ低減が可能で、ゲートオールアラウンド(GAA)や3D NANDにも適用が進みます。
−100℃付近でプラズマ処理を行い、側壁に氷状パッシベーション膜を形成して異方性を飛躍的に高めます。
フォトレジストダメージを抑制できるためEUVリソグラフィ後工程との親和性が高いです。
ソース電極とバイアス電極を独立して駆動し、イオンエネルギーと密度を個別に制御します。
これにより微細化で問題となるイオンボンバードダメージを最小化し、形状維持と選択比を両立します。
エッチング工程は製造コスト全体の15〜20%を占めると言われ、装置投資の判断は企業競争力に直結します。
ロジック、メモリ、パワー半導体などデバイスごとに要求仕様が異なり、プロセスレシピのカスタマイズが求められます。
EUVリソグラフィの導入に伴いマスク枚数が減少する一方、エッチング精度の要求はさらに厳格化しています。
米国Lam Research、日本東京エレクトロン、韓国PSKなどがトップシェアを争います。
各社はプロセスデータ解析AIを組み込み、レシピ開発の高速化と装置稼働率向上を図っています。
後工程であるOSAT企業もファウンドリと共同でRDLやTSVエッチング技術を開発し、2.5D・3Dパッケージ実装に対応しています。
チップレット構造が広がる中、中間層エッチングの歩留まり改善はサプライチェーン全体の課題です。
温室効果ガス排出抑制の観点から、PFCガスの使用削減が国際的に求められています。
プラズマアブレーション除害装置や代替ガス開発により、半導体企業は環境規制に対応しています。
薬液リサイクルやドライプロセスへの移行もCO₂排出削減に寄与します。
AIや車載用高耐圧デバイスの需要拡大により、厚膜絶縁層やSiCといった新材料のエッチング技術が不可欠となります。
原子層レベルの均一加工、低ダメージ化、高スループットの三要件を満たす新装置開発が加速します。
またスマートファクトリー化に伴い、装置自律制御とビッグデータ解析がエッチング品質向上の鍵を握ります。
半導体製造装置のエッチング技術は、微細化と三次元構造化が進む半導体業界で重要性を増しています。
ウェットからドライ、さらにはALEや低温エッチングへと進化し、加工精度と環境負荷低減の両立が図られています。
装置メーカーとデバイスメーカーは連携し、プロセス革新とサステナビリティ施策を推進することで、今後も半導体産業の発展を支えていきます。

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