半導体製造クリーンルームにおけるHEPA/ULPAフィルターの管理手法を解説した資料。従来の「年数ベース」交換から、JIS B 9927改訂を踏まえた「データドリブン」寿命管理への移行を提示する。圧力損失・パーティクル計数値・走査漏れ試験の3指標を軸とした判断基準、設備・調達・品質の連携による8項目チェックリスト、TCO最適化フレームを収録。過剰交換と歩留低下の同時回避を目指す設備技術者・調達・品質保証担当者向け。

この記事で学べるポイント

  • ✔ JIS B 9927-2:2022準拠の走査漏れ試験要件
  • ✔ 圧力損失・パーティクル計数・走査漏れの3判断基準
  • ✔ プレフィルター強化とAMC分類別対策の具体策
  • ✔ IoT差圧計・PCモニタによるリアルタイム監視導入
  • ✔ 部材費・電力費・停機損失を含むTCO計算手法

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